Igła testowa EQUIP-TEST ST750 TA05 N

Description

Igła testowa EQUIP-TEST ST750 TA05 N

Igła testowa 3…4A, średnica końcówki 1,2mm, raster 1,91mm

Igła testowa o długości całkowitej 33,1 mm przeznaczona jest do precyzyjnych pomiarów w układach o rastrze minimalnym 1,91 mm. Element charakteryzuje się kształtem końcówki typu TA o średnicy 1,2 mm, co umożliwia stabilny kontakt podczas procesu testowania.

Konstrukcja oparta na miedzi berylowej z pozłacaną powierzchnią styku zapewnia przewodność prądową w zakresie od 3 A do 4 A przy maksymalnej rezystancji styku wynoszącej 20 mΩ. Mechanizm sprężynowy generuje siłę 2 N, oferując ugięcie robocze na poziomie 4 mm oraz ugięcie maksymalne 6,35 mm.

Komponent przystosowany jest do pracy w warunkach termicznych od -40°C do 120°C. Dzięki swojej specyfikacji technicznej element znajduje zastosowanie w stanowiskach testowych wymagających niezmiennych parametrów elektrycznych oraz mechanicznych.

Tagi:Igła testowa EQUIP-TEST ST750 TA05 N